Les collections du département desarts graphiques Musée du Louvre
Mise à jour de la fiche 06/09/2021 Attention, le contenu de cette fiche ne reflète pas nécessairement le dernier état du savoir.

COURTOIS Guillaume


Ecole française

La découverte de Moïse par la fille de Pharaon

INVENTAIRES ET CATALOGUES :
Cabinet des dessins
Fonds des dessins et miniatures
INV 4077, Recto

Anciens numéros d'inventaire :
NIII16723
MA12526

LOCALISATION :
Petit format

ATTRIBUTION ACTUELLE :
COURTOIS Guillaume
Graf, Dieter
Inspiré par SANTI Raffaello

ANCIENNES ATTRIBUTIONS :
Copie d'après SANTI Raffaello

TECHNIQUES :
H. 00,200m ; L. 00,272m

INVENTAIRE DU MUSEE NAPOLEON :
Inventaire du Musée Napoléon. Dessins. Vol.9, p.1596, chap. : Ecole italienne, volume 15. (...) Numéro : 12526. Nom du maître : Idem [[ Carlo Maratti ]]. Désignation des sujets : Volume 15, ayant pour titre : Disegni Studij di Carlo Maratti, tomo 4. Selon la table mise en tête, il contient cent feuilles et cent vingt cinq dessins, faits de différentes manières, tant sur les R° que sur les V°. Ils sont collés sur les quatre vingt dix premières feuilles. Le nombre des dessins collés sur les R° monte seulement à cent onze, dont quatre sont collés deux à deux. Origine : Collection nouvelle. Emplacement actuel : Calcographie du Musée Napoléon. Signe de recollement : [Vu] [[au crayon]] [111 Vu] [[au crayon]] [ Il y en a 111. Cor ] mention barrée à l'encre [[à l'encre]] [Vu bon Cor] [[à l'encre]]. Cote : 1DD41

COMMENTAIRE :
Copie, par Guglielmo Cortese (D. Graf, note ms.), d'après la composition de la voûte de la VIIIe travée des Loges. D. Cordellier, B. Py, Musée du Louvre - Inventaire des dessins italiens - V. Raphaël, son atelier, ses copistes, Paris, 1992.

INDEX :
Collections : Krahe, Lambert - Maratta, albums dits de
Lieux : Rome, Vatican, Logge di Raffaello, Rome, Vatican, Logge di Raffaello, oeuvre en rapport
Personnes : Pharaon, fille de - Moïse
Sujets : ICONOGRAPHIE RELIGIEUSE - Moïse sauvé des eaux
Techniques : sanguine

REFERENCE DE L'INVENTAIRE MANUSCRIT :
vol. 2, p. 193